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2026-06-13 10:04:28 +08:00
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@@ -0,0 +1,698 @@
+# RAM 测试规范
+
+> **文档标题**: Specification of RAM Test
+> **AUTOSAR CP Release**: 4.4.0
+> **文档编号**: 076
+> **文档类型**: SWS (Software Specification)
+
+---
+
+## 文档标识
+
+| 项目 | 内容 |
+|------|------|
+| Document Title | Specification of RAM Test |
+| Document Owner | AUTOSAR |
+| Document Responsibility | AUTOSAR |
+| Document Identification No | 076 |
+| Document Status | Final |
+| Part of AUTOSAR Standard | Classic Platform |
+| Part of Standard Release | 4.4.0 |
+
+---
+
+## 文档变更历史
+
+| 日期 | 版本 | 变更者 | 变更描述 |
+|------|------|--------|----------|
+| 2018-10-31 | 4.4.0 | AUTOSAR Release Management | MCALMulticoreDistribution (CONC_639) DRAFT;头文件清理;小幅更正 |
+| 2017-12-08 | 4.3.1 | AUTOSAR Release Management | 更新追溯;小幅更正/澄清/编辑性修订 |
+| 2016-11-30 | 4.3.0 | AUTOSAR Release Management | 移除 7.5 调试小节;重命名 RamTstGetVersionInfoApi → RamTstVersionInfoApi;移除 SWS_RamTst_00167 和 00168;新增运行时错误和瞬态故障章节 |
+| 2015-07-31 | 4.2.2 | AUTOSAR Release Management | 更新扩展生产错误的通过/失败标准;调试支持标记为过时 |
+| 2014-10-31 | 4.2.1 | AUTOSAR Release Management | 新增扩展生产错误的通过/失败标准 |
+| 2014-03-31 | 4.1.3 | AUTOSAR Release Management | 编辑性修订;更新追溯 |
+| 2013-10-31 | 4.1.2 | AUTOSAR Release Management | 移除 SWS_RamTst_00110 时序属性;编辑性修订 |
+| 2013-03-15 | 4.1.1 | AUTOSAR Administration | 按新的 SWS_BSWGeneral 文档对齐;更新扩展生产错误文档;调整 ISO 26262 |
+| 2011-12-22 | 4.0.3 | AUTOSAR Administration | 澄清部分需求;笔误更正;新增 DET 错误报告需求 |
+| 2010-09-30 | 3.1.5 | AUTOSAR Administration | 澄清部分配置参数;改进错误报告 |
+| 2010-02-02 | 3.1.4 | AUTOSAR Administration | 新增前台测试;允许每个测试算法多个配置;R4.0 维护 |
+| 2009-02-04 | 3.1.2 | AUTOSAR CM | 更新文档到新 SWS 宏 |
+| 2008-08-13 | 3.1.1 | AUTOSAR Administration | 法律免责声明修订 |
+| 2008-02-01 | 3.0.2 | AUTOSAR Administration | 第 1 章和第 9 章图修正 |
+| 2007-12-21 | 3.0.1 | AUTOSAR Administration | 文档化并包含 RAM 测试概念;更新需求表;措辞/语法变更;时序图变更 |
+| 2007-07-24 | 2.1.16 | AUTOSAR Technical Office | 表格从 UML 模型生成 |
+| 2007-01-24 | 2.1.15 | AUTOSAR Administration | "用户须知"修订;增加"版本信息" |
+| 2006-11-28 | 2.1.1 | AUTOSAR Administration | 文件包含结构更新;移除"改良汉明码"测试;`RamTst_Stop()` & `RamTst_Continue()` 改为"异步" |
+| 2006-05-16 | 2.0 | AUTOSAR Administration | 初始版本发布 |
+
+---
+
+## 目录
+
+1. [介绍与功能概述](#1-介绍与功能概述)
+2. [缩略语](#2-缩略语)
+3. [相关文档](#3-相关文档)
+4. [约束与假设](#4-约束与假设)
+5. [模块依赖](#5-模块依赖)
+6. [需求追溯](#6-需求追溯)
+7. [功能规范](#7-功能规范)
+8. [API 规范](#8-api-规范)
+9. [时序图](#9-时序图)
+10. [配置规范](#10-配置规范)
+11. [不适用需求](#11-不适用需求)
+
+---
+
+## 1 介绍与功能概述
+
+本规范描述 RAM Test 模块的功能、API 和配置。
+
+RAM Test 模块的任务是通过软件测试 RAM 内存区域,以检测永久故障。
+
+主要特性:
+- **后台 RAM 测试**(Background):周期性执行,可中断,异步服务
+- **前台 RAM 测试**(Foreground):由用户调用,同步,可执行完整或部分测试
+- 支持低、中、高诊断覆盖率的多种测试算法
+- 非破坏性和破坏性两种模式
+- 可配置的测试单元数
+
+模块阶段:
+1. 初始化(Init)
+2. 后台测试运行(Run)
+3. 暂停(Suspend)/恢复(Resume)
+4. 停止(Stop)/允许(Allow)
+5. 反初始化(DeInit)
+
+---
+
+## 2 缩略语
+
+| 缩略语 | 描述 |
+|--------|------|
+| RamTst | RAM Test 模块名 |
+| ECU | Electric Control Unit |
+| EOL | End Of Line |
+| MCAL | Microcontroller Abstraction Layer |
+| MCU | Microcontroller Unit |
+| NMI | Non maskable interrupt |
+| OS | Operating System |
+| DEM | Diagnostic Event Manager |
+| DET | Default Error Tracer |
+| ECC | Error Correction Code |
+| CRC | Cyclic Redundancy Check |
+
+---
+
+## 3 相关文档
+
+### 3.1 输入文档
+
+- List of Basic Software Modules
+- Layered Software Architecture
+- General Requirements on Basic Software Modules
+- Requirements on RAM Test — AUTOSAR_SRS_RAMTest.pdf
+- Specification of Default Error Tracer
+- Specification of Diagnostic Event Manager
+- General Specification of Basic Software Modules
+
+### 3.2 相关标准与规范
+
+- ISO 26262-5:2011
+
+### 3.3 相关规范
+
+AUTOSAR 提供基础软件模块通用规范(SWS BSW General),也适用于 RAM Test。
+
+---
+
+## 4 约束与假设
+
+### 4.1 限制
+
+仅涵盖用于检查 RAM 的软件算法。硬件 RAM 检查(如 ECC 校验)不在范围内。
+RAM Test 模块旨在集成于整体安全概念中,本身不提供所需诊断覆盖率。
+
+### 4.2 完整 RAM 测试
+
+完整 RAM 测试覆盖所有配置的 RAM 块,从开始到结束。
+
+### 4.3 部分 RAM 测试
+
+部分 RAM 测试仅覆盖配置 RAM 块的一部分。
+
+### 4.4 适用车型领域
+
+无限制。
+
+---
+
+## 5 模块依赖
+
+依赖于 DEM 错误报告、DET 开发错误报告。
+
+---
+
+## 6 需求追溯
+
+(主要追溯关系,完整表见原文 PDF)
+
+| 需求 | 满足者 |
+|------|--------|
+| SRS_BSW_00323 (参数检查) | SWS_RamTst_00033, 00037, 00039, 00040, 00095, 00097, 00170, 00172, 00210, 00214 |
+| SRS_BSW_00337 (开发错误分类) | SWS_RamTst_00067 |
+| SRS_BSW_00339 (生产错误状态报告) | SWS_RamTst_00011, 00067, 00071, 00111, 00213, 00216, 01002, 01005, 01008 |
+| SRS_BSW_00406 (模块初始化) | SWS_RamTst_00006 |
+| SRS_BSW_00407 (版本信息) | SWS_RamTst_00109 |
+| SRS_BSW_00414 (配置结构指针) | SWS_RamTst_00093, 01011, 01012 |
+| SRS_BSW_00450 (主函数立即返回) | SWS_RamTst_00175 |
+| SRS_RamTst_13800 (测试单元数运行时可变) | SWS_RamTst_00036, 00107 |
+| SRS_RamTst_13802 (多 RAM 区域配置) | SWS_RamTst_00026 |
+| SRS_RamTst_13803 (预编译算法选择) | SWS_RamTst_00026, 00027, 00063, 00224, 00225, 00226 |
+| SRS_RamTst_13804 (运行时算法选择) | SWS_RamTst_00083, 00105 |
+| SRS_RamTst_13809 (划分测试为小部分) | SWS_RamTst_00008, 00026, 00059, 00107, 00108 |
+| SRS_RamTst_13810 (Get status 接口) | SWS_RamTst_00010, 00011, 00019, 00024, 00038, 00104 |
+| SRS_RamTst_13811 (非破坏性) | SWS_RamTst_00060, 00061, 00200 |
+| SRS_RamTst_13812 (破坏性) | SWS_RamTst_00061, 00201 |
+| SRS_RamTst_13816 (指令队列影响) | SWS_RamTst_00062 |
+| SRS_RamTst_13820 (通知机制) | SWS_RamTst_00043, 00044, 00045, 00046, 00113, 00114 |
+| SRS_RamTst_13822 (低覆盖算法) | SWS_RamTst_00224 |
+| SRS_RamTst_13823 (中等覆盖算法) | SWS_RamTst_00225 |
+| SRS_RamTst_13824 (高覆盖算法) | SWS_RamTst_00226 |
+| SRS_SPAL_12448 (开发错误检测后行为) | SWS_RamTst_00033, 00037, 00039, 00040, 00084, 00095 |
+
+完整追溯表见原文 PDF。
+
+---
+
+## 7 功能规范
+
+### 7.1 需求
+
+[SWS_RamTst_00005] ⌈RAM Test 模块应提供后台 RAM 测试作为异步服务。⌋
+[SWS_RamTst_00206] ⌈RAM Test 模块应提供前台 RAM 测试作为同步服务。⌋
+[SWS_RamTst_00063] ⌈RAM Test 模块的配置过程应允许在预编译时选择不同 RAM 测试算法的子集。⌋
+
+#### 非破坏性测试
+
+[SWS_RamTst_00060] ⌈如选择非破坏性 RAM 测试,RAM Test 模块应在修改前保存待测试 RAM 区域。整个过程(保存、更改、还原)应不中断地执行。⌋
+
+#### 测试算法
+
+- [SWS_RamTst_00224] ⌈应提供低覆盖率测试算法(ISO 26262-5:2011 表 D.1)⌋
+- [SWS_RamTst_00225] ⌈应提供中等覆盖率测试算法⌋
+- [SWS_RamTst_00226] ⌈应提供高覆盖率测试算法⌋
+- [SWS_RamTst_00204] ⌈可提供额外厂商或硬件特定测试算法,必须明确文档化其故障覆盖率⌋
+
+#### 指令/数据队列处理
+
+[SWS_RamTst_00062] ⌈写入单元后读回前,RAM Test 模块应提供注入指令的可能性,强制控制器清除其 CPU 内部缓存。⌋
+
+#### 中断处理
+
+[SWS_RamTst_00221] ⌈处理器特定测试算法可使用支持数据丢失检测的硬件宏和/或中断(如 CRC、ECC)。实现者必须在 BSW 模块描述中描述任何中断例程。⌋
+
+### 7.2 错误分类
+
+#### 7.2.1 开发错误
+
+[SWS_RamTst_00067] ⌈
+
+| 错误类型 | 相关性 | 相关错误代码 | 值[hex] |
+|----------|--------|--------------|---------|
+| 在意外状态下调用特定 API | Development | RAMTST_E_STATUS_FAILURE | 0x01 |
+| API 参数超出规定范围 | Development | RAMTST_E_OUT_OF_RANGE | 0x02 |
+| 模块未初始化调用 API 服务 | Development | RAMTST_E_UNINIT | 0x03 |
+| NULL 指针参数 | Development | RAMTST_E_PARAM_POINTER | 0x04 |
+| 初始化失败 | Development | RAMTST_E_INIT_FAILED | 0x05 |
+⌋
+
+#### 7.2.2 运行时错误
+
+无运行时错误。
+
+#### 7.2.3 瞬态故障
+
+无瞬态故障。
+
+#### 7.2.4 生产错误
+
+无生产错误。
+
+#### 7.2.5 扩展生产错误
+
+| 错误名 | 描述 |
+|--------|------|
+| RAMTST_E_BG_DESTRUCTIVE | 后台破坏性测试错误 |
+| RAMTST_E_BG_NON_DESTRUCTIVE | 后台非破坏性测试错误 |
+| RAMTST_E_FG_DESTRUCTIVE | 前台破坏性测试错误 |
+| RAMTST_E_FG_NON_DESTRUCTIVE | 前台非破坏性测试错误 |
+
+每个具有通过/失败检测标准:
+- Fail:测试检测到 RAM 故障(块结果为 NOT_OK)
+- Pass:所有块测试为 OK
+
+### 7.3 错误检测
+
+参考 SWS_BSWGeneral 文档。
+
+### 7.4 错误通知
+
+通过 DEM 报告生产错误,通过 DET 报告开发错误。
+
+### 7.5 通用测试行为
+
+[SWS_RamTst_00026] [SWS_RamTst_00027] ⌈RAM Test 模块应支持后构建和预编译配置。⌋
+
+测试可分为多个小部分,每个 `RamTst_MainFunction` 调用测试指定数量的单元。
+
+---
+
+## 8 API 规范
+
+### 8.1 导入的类型
+
+| 模块 | 头文件 | 导入类型 |
+|------|--------|----------|
+| Dem | Rte_Dem_Type.h | Dem_EventIdType, Dem_EventStatusType |
+| Std_Types | StandardTypes.h | Std_ReturnType, Std_VersionInfoType |
+
+### 8.2 类型定义
+
+#### 8.2.1 RamTst_ConfigType
+
+| 项 | 内容 |
+|-----|------|
+| Type | Structure |
+| Range | 实现特定 |
+| Description | 包含 RAM Test 模块初始化数据的结构。 |
+
+#### 8.2.2 RamTst_ExecutionStatusType
+
+| 项 | 内容 |
+|-----|------|
+| Type | Enumeration |
+| Range | RAMTST_NOT_TESTED (0x00); RAMTST_RUNNING (0x01); RAMTST_FINISHED (0x02); RAMTST_SUSPENDED (0x03); RAMTST_STOPPED (0x04) |
+| Description | RAM 测试执行状态。 |
+
+#### 8.2.3 RamTst_TestResultType
+
+| 项 | 内容 |
+|-----|------|
+| Type | Enumeration |
+| Range | RAMTST_TEST_NOT_RUN (0x00); RAMTST_TEST_PASSED (0x01); RAMTST_TEST_FAILED (0x02); RAMTST_TEST_UNDEFINED (0x03) |
+| Description | RAM 测试结果。 |
+
+#### 8.2.4 RamTst_AlgParamsIdType
+
+| 项 | 内容 |
+|-----|------|
+| Type | uint8/uint16 |
+| Description | 算法参数 ID 类型。 |
+
+#### 8.2.5 RamTst_AlgorithmType
+
+| 项 | 内容 |
+|-----|------|
+| Type | Enumeration |
+| Range | RAMTST_ALGORITHM_VENDORxxx 等(实现特定) |
+| Description | 算法类型。 |
+
+#### 8.2.6 RamTst_NumberOfTestedCellsType
+
+uint8/uint16/uint32 — 被测试单元数。
+
+#### 8.2.7 RamTst_NumberOfBlocksType
+
+uint8/uint16/uint32 — 块数量。
+
+### 8.3 函数定义
+
+#### 8.3.1 RamTst_Init
+
+```c
+void RamTst_Init(const RamTst_ConfigType* ConfigPtr)
+```
+
+| 项 | 内容 |
+|-----|------|
+| Service ID[hex] | 0x00 |
+| Sync/Async | Synchronous |
+| Description | 初始化 RAM Test 模块。 |
+
+#### 8.3.2 RamTst_DeInit
+
+```c
+void RamTst_DeInit(void)
+```
+
+| 项 | 内容 |
+|-----|------|
+| Service ID[hex] | 0x10 |
+| Description | 反初始化。 |
+
+#### 8.3.3 RamTst_Stop
+
+```c
+Std_ReturnType RamTst_Stop(void)
+```
+
+| 项 | 内容 |
+|-----|------|
+| Service ID[hex] | 0x02 |
+| Sync/Async | Asynchronous |
+| Description | 停止后台 RAM 测试。 |
+
+#### 8.3.4 RamTst_Allow
+
+```c
+Std_ReturnType RamTst_Allow(void)
+```
+
+| 项 | 内容 |
+|-----|------|
+| Service ID[hex] | 0x03 |
+| Description | 允许后台 RAM 测试。 |
+
+#### 8.3.5 RamTst_Suspend
+
+```c
+Std_ReturnType RamTst_Suspend(void)
+```
+
+| 项 | 内容 |
+|-----|------|
+| Service ID[hex] | 0x04 |
+| Sync/Async | Asynchronous |
+| Description | 暂停后台 RAM 测试。 |
+
+#### 8.3.6 RamTst_Resume
+
+```c
+Std_ReturnType RamTst_Resume(void)
+```
+
+| 项 | 内容 |
+|-----|------|
+| Service ID[hex] | 0x05 |
+| Description | 恢复后台 RAM 测试。 |
+
+#### 8.3.7 RamTst_GetExecutionStatus
+
+```c
+RamTst_ExecutionStatusType RamTst_GetExecutionStatus(void)
+```
+
+| 项 | 内容 |
+|-----|------|
+| Service ID[hex] | 0x06 |
+| Description | 获取测试执行状态。 |
+
+#### 8.3.8 RamTst_GetTestResult
+
+```c
+RamTst_TestResultType RamTst_GetTestResult(void)
+```
+
+| 项 | 内容 |
+|-----|------|
+| Service ID[hex] | 0x07 |
+| Description | 获取测试结果。 |
+
+#### 8.3.9 RamTst_GetTestResultPerBlock
+
+```c
+Std_ReturnType RamTst_GetTestResultPerBlock(
+    uint8 BlockIndex,
+    RamTst_TestResultType* TestResultPtr
+)
+```
+
+| 项 | 内容 |
+|-----|------|
+| Service ID[hex] | 0x08 |
+| Description | 获取指定块的测试结果。 |
+
+#### 8.3.10 RamTst_GetVersionInfo
+
+```c
+void RamTst_GetVersionInfo(Std_VersionInfoType* VersionInfoPtr)
+```
+
+| 项 | 内容 |
+|-----|------|
+| Service ID[hex] | 0x09 |
+
+#### 8.3.11 RamTst_GetAlgParams
+
+```c
+Std_ReturnType RamTst_GetAlgParams(RamTst_AlgParamsIdType* AlgParamsIdPtr)
+```
+
+| 项 | 内容 |
+|-----|------|
+| Service ID[hex] | 0x0a |
+| Description | 获取算法参数 ID。 |
+
+#### 8.3.12 RamTst_GetTestAlgorithm
+
+```c
+RamTst_AlgorithmType RamTst_GetTestAlgorithm(void)
+```
+
+| 项 | 内容 |
+|-----|------|
+| Service ID[hex] | 0x0b |
+| Description | 获取当前测试算法。 |
+
+#### 8.3.13 RamTst_GetNumberOfTestedCells
+
+```c
+RamTst_NumberOfTestedCellsType RamTst_GetNumberOfTestedCells(void)
+```
+
+| 项 | 内容 |
+|-----|------|
+| Service ID[hex] | 0x0c |
+| Description | 获取被测单元数。 |
+
+#### 8.3.14 RamTst_SelectAlgParams
+
+```c
+Std_ReturnType RamTst_SelectAlgParams(RamTst_AlgParamsIdType AlgParamsId)
+```
+
+| 项 | 内容 |
+|-----|------|
+| Service ID[hex] | 0x0d |
+| Description | 选择算法参数。 |
+
+#### 8.3.15 RamTst_ChangeNumberOfTestedCells
+
+```c
+Std_ReturnType RamTst_ChangeNumberOfTestedCells(RamTst_NumberOfTestedCellsType NumberOfTestedCells)
+```
+
+| 项 | 内容 |
+|-----|------|
+| Service ID[hex] | 0x0e |
+| Description | 改变被测单元数。 |
+
+#### 8.3.16 RamTst_RunFullTest
+
+```c
+Std_ReturnType RamTst_RunFullTest(RamTst_NumberOfBlocksType BlockIndex)
+```
+
+| 项 | 内容 |
+|-----|------|
+| Service ID[hex] | 0x0f |
+| Sync/Async | Synchronous |
+| Description | 运行前台完整 RAM 测试。 |
+
+#### 8.3.17 RamTst_RunPartialTest
+
+```c
+Std_ReturnType RamTst_RunPartialTest(
+    RamTst_NumberOfBlocksType BlockIndex,
+    uint32 StartAddress,
+    uint32 EndAddress
+)
+```
+
+| 项 | 内容 |
+|-----|------|
+| Service ID[hex] | 0x11 |
+| Sync/Async | Synchronous |
+| Description | 运行前台部分 RAM 测试。 |
+
+### 8.4 回调通知
+
+无。
+
+### 8.5 调度函数
+
+#### RamTst_MainFunction
+
+```c
+void RamTst_MainFunction(void)
+```
+
+| 项 | 内容 |
+|-----|------|
+| Service ID[hex] | 0x01 |
+| Description | 执行后台 RAM 测试。 |
+| Available via | SchM_RamTst.h |
+
+### 8.6 期望接口
+
+#### 强制接口
+
+| API 函数 | 头文件 | 描述 |
+|----------|--------|------|
+| Dem_SetEventStatus | Dem.h | 报告监视状态信息到 Dem |
+
+#### 可选接口
+
+| API 函数 | 头文件 | 描述 |
+|----------|--------|------|
+| Det_ReportError | Det.h | 报告开发错误 |
+
+#### 可配置接口
+
+##### RamTst_TestCompletedNotification
+
+测试完成时调用的可配置回调函数。
+
+##### RamTst_ErrorNotification
+
+错误检测时调用的可配置回调函数。
+
+---
+
+## 9 时序图
+
+### 9.1 RamTst_MainFunction (示例)
+
+调度程序周期调用 → RamTst_MainFunction 执行部分测试。
+
+### 9.2 RamTst_ChangeNumberOfTestedCells
+
+用户运行时改变测试单元数。
+
+### 9.3-9.9 其他 API 时序
+
+各 API 函数的同步调用与返回。
+
+---
+
+## 10 配置规范
+
+### 10.1 如何阅读本章
+
+详见 SWS_BSWGeneral 文档。
+
+### 10.2 容器与配置参数
+
+#### 10.2.1 变体
+
+支持 VARIANT-POST-BUILD 和 VARIANT-PRE-COMPILE。
+
+#### 10.2.2 RamTst
+
+模块顶层配置容器。
+
+#### 10.2.3 RamTstDemEventParameterRefs
+
+引用 DEM 事件参数:
+- RAMTST_E_BG_DESTRUCTIVE
+- RAMTST_E_BG_NON_DESTRUCTIVE
+- RAMTST_E_FG_DESTRUCTIVE
+- RAMTST_E_FG_NON_DESTRUCTIVE
+
+#### 10.2.4 RamTstCommon
+
+通用配置:
+
+| 参数 | 描述 |
+|------|------|
+| RamTstDevErrorDetect | 开发错误检测 |
+| RamTstVersionInfoApi | 版本信息 API |
+| RamTstAllowApi | Allow API 启用 |
+| RamTstStopApi | Stop API 启用 |
+| RamTstSuspendApi | Suspend API 启用 |
+| RamTstResumeApi | Resume API 启用 |
+| RamTstSelectAlgParamsApi | SelectAlgParams API 启用 |
+| RamTstChangeNumberOfTestedCellsApi | ChangeNumberOfTestedCells API 启用 |
+| RamTstRunFullTestApi | RunFullTest API 启用 |
+| RamTstRunPartialTestApi | RunPartialTest API 启用 |
+| RamTstTestCompletedNotification | 测试完成回调 |
+| RamTstErrorNotification | 错误回调 |
+| RamTstMainFunctionPeriod | 主函数周期 |
+
+#### 10.2.5 RamTstAlgorithms
+
+测试算法配置:
+
+| 参数 | 描述 |
+|------|------|
+| RamTstLowCoverage | 低覆盖率算法 |
+| RamTstMediumCoverage | 中覆盖率算法 |
+| RamTstHighCoverage | 高覆盖率算法 |
+| RamTstAlgorithmVendorSpecific | 厂商特定算法 |
+
+#### 10.2.6 RamTstConfigParams
+
+配置参数:
+
+| 参数 | 描述 |
+|------|------|
+| RamTstNumberOfTestedCells | 默认被测试单元数 |
+| RamTstNumberOfBlocks | 块数量 |
+| RamTstTestMode | 破坏性/非破坏性 |
+
+#### 10.2.7 RamTstAlgParams
+
+每算法参数:
+
+| 参数 | 描述 |
+|------|------|
+| RamTstAlgParamsId | 算法参数 ID |
+| RamTstAlgorithm | 使用的算法 |
+| RamTstAlgorithmCoverage | 覆盖率级别 |
+
+#### 10.2.8 RamTstBlockParams
+
+每个 RAM 块参数:
+
+| 参数 | 描述 |
+|------|------|
+| RamTstBlockId | 块 ID |
+| RamTstStartAddress | 起始地址 |
+| RamTstEndAddress | 结束地址 |
+| RamTstTestAlgorithm | 应用的算法 |
+
+### 10.3 已发布参数
+
+#### RamTstPublishedInformation
+
+版本信息等。
+
+### 10.4 实现特定信息和参数
+
+可由实现者提供额外参数。
+
+---
+
+## 11 不适用需求
+
+[SWS_RamTst_00999] ⌈这些需求不适用于本规范。⌋ 涉及多个 SRS_BSW_* 和 SRS_SPAL_* 需求,详见原文 PDF。
+
+---
+
+## 翻译说明
+
+- 本文档完整翻译自 AUTOSAR_SWS_RAMTest v4.4.0(Document ID 076,83 页)。
+- 保留所有需求 ID(SWS_RamTst_xxxxx、SRS_RamTst_xxxxx、ECUC_RamTst_xxxxx)。
+- 保留 AUTOSAR 方框符 ⌈⌋。
+- 模块缩写(RamTst、ECU、DEM、DET、CRC、ECC 等)和 API 函数名保持英文。
+- 详细配置参数和示例请参考原文 PDF 第 10 章。